307
| 2012-0490T-SJ
| 电子工业用高纯石英砂技术条件
| 推荐
| 修订
| SJ 3228.1-1989
| | 2012
| 电子信息司
| 全国半导体材料和设备标准化技术委员会（TC203）
| 中国电子技术标准化研究院
| |
308
| 2012-0491T-SJ
| 高纯石英砂分析方法通则
| 推荐
| 修订
| SJ 3228.2-1989
| | 2012
| 电子信息司
| 全国半导体材料和设备标准化技术委员会（TC203）
| 中国电子技术标准化研究院
| |
309
| 2012-0492T-SJ
| 高纯石英砂中二氧化硅的测定
| 推荐
| 修订
| SJ 3228.4-1989
| | 2012
| 电子信息司
| 全国半导体材料和设备标准化技术委员会（TC203）
| 中国电子技术标准化研究院
| |
310
| 2012-0493T-SJ
| 高纯石英砂中铬的测定
| 推荐
| 修订
| SJ 3228.7-1989
| | 2012
| 电子信息司
| 全国半导体材料和设备标准化技术委员会（TC203）
| 中国电子技术标准化研究院
| |
311
| 2012-0494T-SJ
| 高纯石英砂中铝的测定
| 推荐
| 修订
| SJ 3228.8-1989
| | 2012
| 电子信息司
| 全国半导体材料和设备标准化技术委员会（TC203）
| 中国电子技术标准化研究院
| |
312
| 2012-0495T-SJ
| 高纯石英砂中铅的测定
| 推荐
| 修订
| SJ 3228.10-1989
| | 2012
| 电子信息司
| 全国半导体材料和设备标准化技术委员会（TC203）
| 中国电子技术标准化研究院
| |
313
| 2012-0496T-SJ
| 高纯石英砂中铁的测定
| 推荐
| 修订
| SJ 3228.5-1989
| | 2012
| 电子信息司
| 全国半导体材料和设备标准化技术委员会（TC203）
| 中国电子技术标准化研究院
| |
314
| 2012-0497T-SJ
| 高纯石英砂中铜的测定
| 推荐
| 修订
| SJ 3228.6-1989
| | 2012
| 电子信息司
| 全国半导体材料和设备标准化技术委员会（TC203）
| 中国电子技术标准化研究院
| |
315
| 2012-0498T-SJ
| 高纯石英砂灼烧失量的测定
| 推荐
| 修订
| SJ 3228.3-1989
| | 2012
| 电子信息司
| 全国半导体材料和设备标准化技术委员会（TC203）
| 中国电子技术标准化研究院
| |
316
| 2012-0499T-SJ
| 太阳能级硅方片电阻率测试方法
| 推荐
| 制定
| | | 2012
| 电子信息司
| 全国半导体材料和设备标准化技术委员会（TC203）
| 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
| |
317
| 2012-0500T-SJ
| 太阳能级硅方片外观尺寸测试方法
| 推荐
| 制定
| | | 2012
| 电子信息司
| 全国半导体材料和设备标准化技术委员会（TC203）
| 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
| |
318
| 2012-0501T-SJ
| 太阳能级硅方片外观缺陷测试方法
| 推荐
| 制定
| | | 2012
| 电子信息司
| 全国半导体材料和设备标准化技术委员会（TC203）
| 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
| |
319
| 2012-0502T-SJ
| 太阳能级硅方片微裂纹缺陷的测试方法
| 推荐
| 制定
| | | 2012
| 电子信息司
| 全国半导体材料和设备标准化技术委员会（TC203）
| 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
| |
320
| 2012-0503T-SJ
| 太阳能级硅片尺寸和电学表征在线测试方法
| 推荐
| 制定
| | | 2012
| 电子信息司
| 全国半导体材料和设备标准化技术委员会（TC203）
| 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
| |
321
| 2012-0504T-SJ
| 运输环境下晶体硅光伏组件机械振动测试方法
| 推荐
| 制定
| | SEMI PV23-1011，IDT
| 2012
| 电子信息司
| 全国半导体材料和设备标准化技术委员会（TC203）
| 无锡尚德太阳能电力有限公司
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